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原子力顯微鏡(AFM)通過(guò)一根小小的探針來(lái)間接地感知物體表面結構,得到樣品表面的三維相貌圖象,并可對三維形貌圖象進(jìn)行粗糙度計算、厚度、步寬、方框圖或顆粒度分析。
AFM廣泛應用于材料科學(xué)中,是一種非常重要的表面表征技術(shù)。除了進(jìn)行形貌觀(guān)察,AFM還可以用來(lái)測量物質(zhì)和材料表面原子間的作用力、表面彈性、塑性、硬度、粘著(zhù)力、摩擦力等性質(zhì)。
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